愛德萬機台實現低成本IC測試需求

2013 年 01 月 10 日

愛德萬測試(Advantest)宣布,已為邁威爾(Marvell)裝設並評估愛德萬全新測試機台,同時結合愛德萬增強型性能解決方案EPP–T2000,以及動態測試分類機(Dynamic Test Handler)–M4841。
 



邁威爾製造營運部門副總裁Albert Wu表示,邁威爾與愛德萬合作,將可開發出具高度彈性和成本效益的解決方案,未來即可在同一平台上完成元件特性分析和量產。
 



愛德萬資深副總裁Mak Nakahara指出,近年來全球市場IC產量不斷增加,愛德萬一方面持續開發更多測試機台功能,另一方面也已做好萬全準備,因應客戶日益變化的需求。


T2000加上M4841測試機台同測能力高達十六個元件,可為極注重成本效益的高產能半導體,包括基頻處理器、應用處理器、微處理器、微控制器、高度整合式電源管理IC(PMIC)等實現最低終程測試成本。
 



T2000轉接板亦提供業界最大腳座,測試頭架構不僅可發揮最高同測能力,同時與M4841測試分類機間的連接機制也變得更簡單。M4841分類機是專為高產能、低測試成本所設計,發生阻塞時可維持高平均接觸力(Mean Contact Between Jams),且擁有軟接觸式技術,能保護單一化IC封裝避免刮傷或其他可能損壞。
 



愛德萬網址:www.advantest.com

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