愛德萬測試(Advantest)近幾年針對物聯網領域中多變複雜的技術特性，持續推出整合性更高的量測解決方案，滿足低階至高階、晶片至系統層級，以及研發端至產線的各種量測需求。
除了完善的V93000平台及相關衍生模組產品(Wave Scale RF卡及相對應的Wave Scale MX卡)外，T2000系統及EVA100測量平台也已進行功能擴充，以滿足物聯網測試需求。其中，針對現階段物聯網晶片多整合有微控制與應用處理器，以執行通訊、電源管理和感測等許多功能，愛德萬測試推出T2000 AiR系統，為高整合度晶片提供高效率類比/混合訊號IC量測。
該公司今年五月甫於美國加州及中國上海舉辦的2017 VOICE Conference，共有181篇技術研究報告投稿，吸引超過450位的來賓參與，雙雙打破過去十年來的記錄。十月下旬將於新竹舉辦Memory Technical Forum記憶體測試技術論壇，十一月的SoC Technical Seminar系統單晶片測試研討會緊接登場，以協助客戶打造面對市場激烈競爭的即戰力。
在VOICE之後的是一連串重要活動，將在下半年度展開。9/13-9/14 Advantest將在2017台灣半導體展中設有Hospitality Suite接待客戶，提供餐點及產品解說。集團旗下的銷售子公司Cloud Testing Service, Inc.，今年也將出席2017 Semicon Taiwan，設置攤位在#1627，提供兼具IT與雲端技術的測試解決方案。
