愛德萬測試論文徵稿開跑

2016 年 11 月 03 日

愛德萬測試(Advantest)主辦的2017年度VOICE開發者大會,即日起向國際徵集半導體測試解決方案、最佳應用與創新技術相關論文發表。


本次大會亦將依循往例,於兩個地點盛大展開,5月16至17日於美國加州棕櫚泉(Palm Springs)印第安維爾斯凱悅Spa度假酒店(Hyatt Regency Indian Wells Resort&Spa)揭開序幕,5月26日則移師成長前景可期的中國市場,於上海錦江湯臣洲際大酒店(InterContinental Shanghai Pudong)登場,兩場會議皆以洞悉聯網世界與其中奧秘(Measure the Connected World and Everything in It)為主軸。


VOICE開發者大會,即將於2017年邁入第二個十年,愛德萬測試將持續提供與會者精進知識與廣建人脈的平台,包括聚焦於八條技術路線的技術發表會、合作夥伴的展示會以及社交活動。此外,本次大會上的VOICE技術資訊站展示,將針對愛德萬測試V93000與T2000系統單晶片(SoC)測試平台、記憶體測試機台、分類機、測試機解決方案、產品工程和測試技術的使用者,進一步加入更多互動討論的議程。


在每一年的VOICE大會上,來自全球整合元件製造商(IDM)、晶圓廠、IC設計公司和封測代工(OSAT)供應商領導業者的半導體測試專家齊聚一堂,互相交流資訊與想法。

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