愛德萬測試(ADVANTEST)宣布成功開發太赫茲(Terahertz)光譜及成像分析平台，成為已有的太赫茲波非侵入性分析設備系列中最新成員。新產品通過把太赫茲光源和檢測器分離成獨立模組並以光纖與主機聯接，使得被測區域可以任意靈活布置，擴大應用範圍。
太赫茲技術是在測量和分析方面的前沿技術，在各種應用領域都吸引到關注和投資。因為物質對太赫茲波段不同頻率呈現不同的反射或吸收特性，非常適用於光譜分析和非侵入性成像應用。愛德萬測試公司於2010年4月首次推出其太赫茲分析系統–TAS7000三維(3D)成像分析系統，目前在太赫茲應用上業界已有針對不同市場的非侵入性分析系統，如藥物分析產品。
最新的研究結合太赫茲分析技術和其他實驗設備如液氦低溫保持器(Cryostat)及加熱器，用於開發新材料和物理分析。實驗室要求測量設備高精度同時易於使用，愛德萬測試公司的新太赫茲光譜及成像分析平台滿足了這些要求，幫助研發人員達到高精度、高效率。
通過把太赫茲光源和檢測分離成獨立模組並以光纖與主機聯接，使得被測區域可以任意靈活佈置。這一平台也可以與其他實驗設備相連，支援利用在應用太赫茲的更廣泛的研究項目。
愛德萬測試網址：www.advantest.co.jp
