愛德萬測試(Advantest)近期發表專為高效能通用快閃儲存(UFS)元件與PCIe BGA固態硬碟(SSD)所設計的低成本測試解決方案–T5851系統，將可滿足智慧型手機、平板電腦、超可攜式產品等低功耗、行動應用市場對於記憶體IC的強勁需求。
愛德萬測試執行董事山田弘益表示，低功耗行動電子產品的趨勢，帶動高階儲存解決方案的需求，由於這些儲存產品採用高速省電的序列介面與高效能儲存協定，記憶體IC製造商需要與過去不同等級的測試系統，不但要專為這類元件的系統層級測試製程所設計，還須兼具一般記憶體測試系統所擁有的可靠性、低成本、支援大量測試的能力，而新款產品可滿足這些要求。
新推出的測試系統分別提供量產機型與工程開發機型，讓使用者可隨需彈性運用於可靠性測試、品質檢驗測試、測試程式開發測試等用途，也能在搭載自動化元件分類機(如該公司的M6242分類機)的架構下，應用於量產環境。
此外，新產品經實證的測試架構，與旗下固態硬碟測試解決方案MPT3000產品系列一致，並採用與T5800系列產品相同的多功能平台與FutureSuite軟體，可讓使用者降低投資成本與建置風險。
愛德萬網址：www.advantest.com
