愛德萬測試(Advantest)推出T2000 8Gbit/s數位模組(8GDM)，滿足系統單晶片(SoC)裝置各式介面高速測試需求，包括序列式、並行式，以及記憶介面如PCI-Express與雙倍資料傳輸率(DDR)連接等。該公司並將於今年12月5～7日，在日本千葉縣幕張國際展覽中心舉辦的SEMICON Japan國際半導體展上展出T2000 8GDM。
愛德萬SoC測試事業體執行長暨執行副總裁Toshiyuki Okayasu表示，全新T2000 8GDM的密度更高、效能更強大，支援多重時域高速介面的複雜SoC裝置測試，並具備專為系統層次的功能性測試所設計的FTA功能，可望擴大該公司的市場占有率。
多功能T2000 8GDM可支援各種SoC介面測試，資料傳輸率高達8Gbit/s，主要功能包括時脈資料回復(CDR)、抖動注入、輸入/輸出(I/O)死帶消除、多重閃控操作等。此模組涵蓋在T2000增強型性能解決方案(EPP)中，具功能性測試抽象化功能，將進一步縮短週期時間並簡化除錯。
愛德萬所研發的模組與測試機，不僅擁有高效能運作能力，更可提供高產能、多使用者環境及並列同測功能，達到降低測試成本、加速上市的目標，是半導體廠商面對全球布局挑戰不可或缺的設備。
愛德萬網址：www.advantest.com
