改善MEMS加速計高壓釜測試弊病 FA改良設計對症下藥

2011 年 01 月 17 日
為消除MEMS加速度計經由高壓釜測試後,因補償值改變造成封裝應力、電阻漏失與產生寄生電容變更三大失敗機制的弊端,產業界現正透過FA技術深究背後主因,並根據FA測試結果,分別提出解決之道,以強化產品的性能。
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