是德科技(Keysight Technologies)日前發表新版低頻雜訊分析儀(A-LFNA)軟體，以協助工程師執行快速、準確、可重複的低頻雜訊量測。新版軟體包含新的操作介面，並且與WaferPro Express軟體緊密結合。WaferPro Express平台可針對半導體元件自動執行晶圓級量測，讓工程師能深入了解元件和電路中的雜訊，而不僅是在獨立系統進行單向雜訊量測。
台灣是德科技總經理張志銘表示，該公司的元件特性分析與建模軟體客戶各有不同的測試需求，從GaN可靠度和CMOS建模，到電磁感應器測試等。利用新的A-LFNA軟體操作介面，提供客戶在晶圓上進行元件雜訊量測與建模的能力，同時提供完整且靈活的量測選項，從直流、電容到微波頻率上的S參數量測，一應俱全。
該軟體與WaferPro Express軟體的組合，可全面滿足工程師的需求。這套整合式解決方案，簡化了封裝和晶圓級的個別元件和積體電路的雜訊量測。
其內建的量測程式提供統包的直流和雜訊測量。舉例而言，如須量測N型MOSFET的雜訊，測試系統可自動選擇訊號源，並載入可完整揭露元件本質雜訊的阻抗。工程師可接受這些建議設定，亦或進行修改，接著便可開始量測雜訊功率頻譜密度(1/f雜訊)和時域(RTN)內的雜訊。
是德網址：www.keysight.com
