是德科技(Keysight)推出新的Keysight P9002A並聯參數測試系統，以協助半導體廠商進行經濟有效的高速晶圓測試，讓業者能加快研發和產品上市速度，並降低製造測試成本。
全球半導體短缺，對汽車、數位裝置和家用電器產業的衝擊甚鉅，市場需求也節節攀升。 另一方面，半導體產業不斷推展技術創新，例如採用新材料、微型化技術和3D封裝製程，但也因而面臨著各種技術挑戰。 此外，隨著適用於5G、資料中心、人工智慧(AI)和汽車等商業應用的複雜元件設計紛紛湧現，工程師需進行測試的參數也越來越多。
為因應此挑戰，並協助製造商快速提升產能，是德科技推出了新的P9002A並聯參數測試系統，以實現高量測速率且經濟有效的晶圓測試。該系統提供支援達100個通道並聯測試資源的靈活選項結構，包括在每個測試資源上進行參數測試所需的測試功能。Keysight P9000系列的軟體與4080系列參數測試系統的SPECS軟體相容，讓客戶能夠利用現有的測試程式和測試計畫，進行資料關聯性比對。
是德科技晶圓測試解決方案事業群副總裁暨總經理Shinji Terasawa表示，是德科技很高興能透過P9002A測試系統等先進量測解決方案，來支援不斷演進的半導體產品開發和製造。 這套新的解決方案充分利用是德科技經驗證的參數測試經驗和專業知識，讓我們能協助客戶迎戰各種嚴苛的測試難題。
