是德科技誤碼測試解決方案新增PAM-4支援

2015 年 09 月 15 日

是德科技(Keysight)日前宣布旗下Keysight M8000系列誤碼測試解決方案新增PAM-4資料格式和內建的誤碼計數器支援,進一步擴充其PAM-4測試解決方案的陣容。該新增的資料格式可支援並整合元件的內建誤碼計數器,讓研發和測試工程師能輕易評估並測試高速數位接收器,以便滿足資料中心網路、記憶體和電腦產業的需求。


台灣是德科技總經理張志銘表示,Keysight M8000系列為高度整合的誤碼率測試解決方案,適用於數位接收器特性分析和相符性測試。該公司在通用操作介面中整合PAM-4支援與內建誤碼計數器,以協助使用者克服下一代高速數位設計的測試挑戰。


該系列誤碼測試解決方案可支援快速準確的單通道和多通道元件接收器特性分析,提昇數位設計的分析速度,且包含透過通用操作介面軟體控制的高效能AXIe BERT以及任意波形產生器模組。


此外,該解決方案特性還包含:可使用通用操作介面和M8195A任意波形產生器,產生符號速率高達32 Gbaud和多達四通道的PAM-4碼型,並透過J-BERT M8020A高效能誤碼率測試儀產生NRZ碼型;以及透過IronPython腳本,在M8000操作介面中整合內建的誤碼計數器和元件狀態暫存器存取功能,以提高測試效率。


是德科技網址:www.keysight.com.tw

標籤
相關文章

是德PXIe向量訊號測試方案獲慧智微电子採用

2014 年 08 月 11 日

是德新款應用軟體支援四十個通道測試

2015 年 06 月 05 日

是德NFC測試系統通過EMVCo認證

2015 年 05 月 12 日

是德新款高速數位轉換器提升資料處理能力

2015 年 05 月 19 日

是德科技針對 PCIe 5.0 技術推出全方位解決方案

2019 年 02 月 26 日

ADI/是德共推相位陣列技術速化部署

2022 年 10 月 26 日
前一篇
增強8位元MCU實力 微芯新開發平台上陣
下一篇
瑞薩微控制器滿足工業感測器及醫療保健應用