是德PXI解決方案加速放大器模組量測

2014 年 10 月 02 日

是德科技(Keysight Technologies)宣布推出適用於射頻功率放大器(RFPA)特性分析和測試的全新PXI參考解決方案,讓工程師能藉由執行S參數、諧波失真、功率和解調變等量測,對功率放大器雙工器(PAD)等下一代功率放大器模組,進行快速而徹底的特性分析。該參考解決方案經過最佳化,以提供更快的量測速度和更高的量測準確度。


台灣是德科技總經理張志銘表示,該款PXI參考解決方案是射頻功率放大器特性分析和測試的理想選擇,因為取得準確的PAD模組量測結果,是獲致成功的關鍵。這套解決方案具有經驗證的強大數位預失真(DPD)演算法,加上開迴路和閉迴路量測功能,因此在效能方面高於其他PA特性分析與測試解決方案。


這套小尺寸PXI參考解決方案,是專為射頻功率放大器特性分析而設計。現在,工程師可在設計驗證和產品測試階段,輕而易舉地對射頻功率放大器及周邊所有被動元件,例如濾波器和雙工器,進行全面的特性分析。


該參考解決方案的DPD演算法奠基於是德科技與無線裝置製造商多年的緊密合作關係,以及Keysight SystemVue模擬軟體和N7614B Signal Studio for Power Amplifier Test應用軟體所提供的洞察力,使其成為能由模擬到製造階段,提供一致量測結果的解決方案。


是德科技網址:www.keysight.com

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