溫瑞爾(Wind River)宣布提供On-Chip Debugging for Manufacturing and Test解決方案，此一遵循業界標準的創新方案讓測試與製造工程師從此能在生產現場直接診斷硬體問題。該功能強大的新方案能協助製造商提高生產線產能、更有效率地驗證完工產品，減少報廢率(Scrap)和重做率(Rework)，也能針對個別需求輕易地建立客製化的測試應用。
該方案能與邊界掃描器、邏輯分析儀和示波器等客戶既有的工具搭配以發揮更大的效用，可保護客戶的既有投資。該方案結合其在on-chip除錯方案領域中的領先技術與特有的測試及製造工具，且預先整合美國國家儀器(NI)LabVIEW平台與開發環境。該方案包括該公司的ICE和Probe模擬器、On-Chip Debugging 應用程式介面和Utility JTAG測試方案、以及NI LabVIEW Virtual Instrument Driver。
該方案能協助製造商達成下列目標，精簡製造過程中的測試程序，因為待測元件(Device under Test; DUT)不需要達到完整運作的階段即可進行測試，透過目標CPU與記憶體子系統的分析和除錯，以縮短製造過程中的除錯程序，簡化冗長的測試與自動化系統建置，減少測試/製造成本並改善製造週期時間，以及利用自動化測試以提供一致且可預測的結果。
美國國家儀器表示，隨著嵌入式設備製造的日趨複雜化，運用on-chip除錯技術以強化既有生產測試管理計畫的價值也越來越顯著。這個趨勢表示製造者除了傳統邊界掃描測試之外，還需要擁有能結合快閃程式設計和on-chip軟體測試與驗證的方案，以確保設備功能並有效排除缺陷。透過與LabVIEW整合，該方案延伸LabVIEW的測試管理能力和先進報表機制，讓客戶能更快更有效率地將產品推出市場。
溫瑞爾表示，該公司了解嵌入式設備的開發過程中，所涉及的複雜性越來越高，且涵蓋包括製造與測試在內的整個產品開發生命週期。透過該測試方案，客戶將能在較短的時間內，進行更多徹底的測試以提升製造產能，並在製造程序後期進行缺陷排除、因而減少報廢品的庫存同時降低製造成本。和NI的合作讓雙方客戶能輕易的建立客製化方案，以符合客戶獨特的生產環境需求。
其方案使開發者可選擇目標晶片上的特定記憶體區域，擷取資料並儲存到電腦主機檔案系統內。這項功能允許測試與製造工程師在目標晶片上載入和執行測試程式，擷取儲存在特定記憶體區域的測試結果，並將結果存檔以供未來參考和分析。
其亦可透過建立較高階的虛擬儀表(Virtual Instrument; VI)進一步強化On-Chip Debugging API與NI LabVIEW間的整合。新虛擬儀表讓LabVIEW使用者更容易建立他們自己的客製化測試應用，且支援廣泛的處理器和架構。
溫瑞爾網址：www.windriver.com、美商國家儀器網址：ni.com/taiwan
