與ATE業者攜手 NI PXI專攻半導體測試

作者: 蕭如涵
2010 年 03 月 25 日

有鑑於晶片功能複雜,導致IC驗證與測試難度提高,加上半導體測試成本居高不下,美商國家儀器(NI)力推PXI,強調透過此模組化儀器可加快測試時間,有效降低測試成本,該公司目前已與眾多IC、封測廠商及自動化測試設備(ATE)業者進行合作。




左起為美商國家儀器台灣區總經理孫基康、半導體測試行銷經理Scott Savage。



美商國家儀器半導體測試行銷經理Scott Savage指出,PXI的優勢在於運用了個人電腦(PC)的多核心處理器以強化系統效能,且具備可編程的硬體架構可縮短IC驗證時間,也具有高速通訊介面特性,該模組化儀器利用PC的傳輸介面PCI/PCI Express提升資料傳輸速率。PXI可測試類比數位轉換器(ADC)、數位類比轉換器(DAC)、電源管理IC、無線IC與微機電系統(MEMS)裝置。
 



美商國家儀器已與ATE業者泰瑞達(Teradyne)合作,將其模組與該公司的軟體整合,強化泰瑞達在數位、類比以及低、高價的各類產品線,使其更趨完整。美商國家儀器台灣區總經理孫基康表示,該公司PXI除已應用於安森美(ON Semiconductor)電源IC產品測試,此外,奧地利微電子(Austriamicrosystems)、英飛凌(Infineon)也已採用PXI進行IC驗證。
 



據了解,目前PXI搭配現場可編程閘陣列(FPGA)模組架構,再加上宏相科技的測試軟體即可以完成數位麥克風自動化測試系統,而在眾多測試應用中,Savage透露,該公司相當看好MEMS的市場潛力,不僅提供MEMS數位麥克風測試,如MEMS陀螺儀、加速度計等也都是強打的測試應用。至於射頻IC部分,孫基康則指出,除了藍牙(Bluetooth)、無線區域網路(Wi-Fi)、全球微波存取互通介面(WiMAX)外,有關通訊產業應用的收發器(Transceiver)與功率放大器(PA)等量大且成本壓力也大的元件端測試應用,將是未來急遽成長的一大商機。

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