蔚華/南方聯手推出非破壞性SiC晶圓檢測方案

作者: 黃繼寬
2023 年 11 月 28 日
半導體測試解決方案供應商蔚華科技與旗下數位光學品牌南方科技,近日共同推出JadeSiC-NK非破壞性缺陷檢測系統。該檢測系統是專為碳化矽晶圓的缺陷檢測而設計,可協助碳化矽晶圓供應商跟使用碳化矽材料製造元件的業者實現100%檢測,不僅能節省碳化矽晶圓的成本,還可協助基板跟元件製造商實現更全面的製程分析與控制,進而提高產品良率。...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

SiC應用市場起飛 英飛凌積極布局

2018 年 08 月 03 日

瞄準汽車/工業應用 整合式GaN電源市場TI不缺席

2020 年 11 月 12 日

UnitedSiC第四代SiC元件添新品 750V方案或成後起之秀

2021 年 10 月 07 日

購併UnitedSiC Qorvo進軍第三代半導體 

2021 年 11 月 05 日

羅姆/台達電結盟 共同推動GaN功率技術發展

2022 年 04 月 27 日

確保碳化矽晶圓供應 英飛凌再簽兩家新供應商

2023 年 05 月 05 日
前一篇
歐特明推出視覺AI大型車主動預警輔助系統
下一篇
Tektronix推出開放原始碼Python原始驅動程式套件