智慧型手機處理器變身

迎接LTE設計/測試新挑戰 量測儀器解決方案率先出擊

作者: Sandy Fraser
2008 年 03 月 24 日
通訊技術由2G發展到3GPP LTE時,在設計與測試上帶來許多新挑戰,由於LTE測試規格將底定,也讓廠商在測試標準上有所依歸,可解決日後LTE全面商用化後,產品不相容問題,而技術永遠跑在前頭的量測儀器商,也適時推出符合LTE測試需求產品,解決LTE特殊的測試需求。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

強化可靠性/擴充性能 燃料電池測試系統再進化

2009 年 02 月 26 日

超越摩爾定律 28奈米FPGA突破功耗瓶頸

2010 年 07 月 15 日

強化HD與3D應用體驗 USB 3.0傳輸效率全面進化

2012 年 12 月 17 日

導入系統級封裝光引擎 傳統燈具躍升智慧照明

2014 年 10 月 09 日

組織化分析資安風險 聯網工廠拒當駭客天堂

2020 年 07 月 30 日

EDS分析應考量輕元素吸收效應 碳/氮/氧低能量X光易被吸收(1)

2024 年 09 月 13 日
前一篇
Maxim推出三通道/PCI Express热插拔控制器
下一篇
行情正夯 群雄搶占數位相框市場