降低電源IC損壞率 輸入端過應力分析不可少

作者: Roland van Roy
2016 年 11 月 03 日
電源IC失效常常是輸入端受到電氣過應力(EOS)的結果。本文對電源IC輸入端ESD保護單元的結構進行解釋,說明它們在遇到EOS事件時是如何受損。在系統設計中採用一些特別的設計可以避免EOS發生,防範它們可能帶來的危害。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

簡化訊號與轉換路由 混合式IC提升車艙音質

2007 年 12 月 27 日

邁向異質整合優勢多 3D IC普及指日可待

2009 年 09 月 27 日

浮點運算DSP強化醫療影像品質 超音波裝置可攜成真

2010 年 12 月 09 日

強化USB Type-C訊號鏈 轉接驅動器挑大樑

2018 年 03 月 19 日

無線通訊/功耗處理革新加持 IoT結合能源擷取將成趨勢

2017 年 11 月 20 日

電感器材料/設計/氣隙計算慎行 車載充電器耗損降效率增

2020 年 06 月 14 日
前一篇
ARM全新影像處理器問世 VR/4K應用添柴薪
下一篇
是德推出全新eCall測試解決方案