LTE-Advanced和802.11ac雙重訊號產生器出爐。羅德史瓦茲(R&S)發布新一代高階多重輸入多重輸出(MIMO)向量訊號產生器(Vector Signal Generator)，可同時滿足進階長程演進計畫(LTE-Advanced)及無線區域網路(WLAN)最新標準802.11ac測試需求，以搶攻無線通訊量測市場。
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| 台灣羅德史瓦茲應用支援經理陳飛宇表示，新發表的高階向量訊號產生器可經由觸控式螢幕進行直覺化操作。 |
台灣羅德史瓦茲應用支援經理陳飛宇表示，隨著各國政府、行動裝置廠對LTE-Advanced及802.11ac的採用意願逐漸提升，無線通訊技術已邁向另一大發展高峰，但同時也帶來更多量測挑戰，如更高的調變頻寬、針對多重標準無線電(Multi Standard Radio, MSR)以及多通道同步測試等。
不僅如此，為讓測試環境更接近消費者實際使用情境，廠商大多希望能在量測過程中訊號產生器能同時向接收端(Rx)發射一個以上的訊號源，包括LTE-Advanced及802.11ac等基頻訊號，並須加入衰減訊號及可加性白色高斯雜訊(Additive White Gaussian Noise, AWGN)功能，以提高量測精準度。
有鑑於此，羅德史瓦茲推出單機高階向量訊號產生器，該量測方案整合基頻訊號產生器、射頻(RF)產生器及MIMO衰減訊號模擬器，其涵蓋頻率範圍從100kHz～3GHz或6GHz，I/Q調變頻寬達160MHz，適用於寬頻通訊相關高階元件、模組及產品研發量測。
陳飛宇指出，該高階向量訊號產生器較競爭方案最為不同的特色，在於可同時產生LTE-Advanced及802.11ac無線區域網路訊號，並且同時搭配衰減訊號及AWGN等量測實境。
陳飛宇強調，市面上的PXI模組方案雖宣稱可達8×8 MIMO量測功能，但訊號品質並不理想，且須額外編程(Programming)，纜線(Cable)設定也相當麻煩；而非PXI模組型的單機MIMO解決方案，則多僅能傳送LTE或802.11ac單一訊號，若要提高量測精準度，則須再額外加上另一台訊號產生器。
為減少機台擺放空間、縮短量測時間，羅德史瓦茲高階向量訊號產生器加入第二個RF路徑，因此若再加上機台內部的兩個基頻訊號源、四個衰減訊號模擬器模組，使用者即如同擁有兩台全功能的向量訊號產生器。
據了解，羅德史瓦茲高階向量訊號產生器的衰減訊號模擬情境囊括2×2 MIMO、8×2 MIMO分時多工長程演進計畫(TD-LTE)量測應用，以及2×2 MIMO LTE-Advanced載波聚合(Carrier Aggregation)應用。
值得注意的是，行動裝置晶片商如高通(Qualcomm)為競逐LTE-Advanced晶片商機，皆已開始緊鑼密鼓部署。陳飛宇指出，相較於LTE版本，LTE-Advanced晶片須在短時間內處理更多的載波聚合，而羅德史瓦茲高階向量訊號產生器將有助於廠商模擬各式複雜的高品質訊號，針對晶片進行除錯。
