2005致茂電子「PXI 高速LED 測試系統研討會」

2005 年 03 月 29 日

致茂電子PXI系統事業部,將於3月31日~4月1日,假新竹科學園區勞工育樂中心B1會議室及南科育成中心第三會議室,將舉辦PXI高速LED測試系統研討會,會中將展示LED測試系統、ESD測試儀器,可針對LED晶片/晶粒作電量、光學特性的分析及ESD測試( Human Body Mode-STM5.1-2001或Machine Mode-STM5.2-1999 ),且以開放的PXI架構為基礎,具有可擴充性及快速整合能力;另外,會中將發表最新的LED Chip Prober,此為採用CCD影像辨識系統來處理切割及擴張前後晶粒的全自動高速檢測系統,具有自動排除晶粒破裂及錯位等功能,為業界第一台整合ESD之高速LED測試系統,可提高目前業界測試系統兩倍以上的速度及精準度,為最佳的高速LED測試解決方案。藉由此研討會與光電業界先進共同探討相關議題,會中將有實體現場展出,竭誠歡迎業界先進踴躍參加。
 

相關網站:www.chromaate.com
 

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