亞德諾半導體(ADI)和是德(Keysight)日前宣布將合作加速Open RAN無線電單元(O-RU)的網路互通性及合規性測試。
雙方將共同建構一強大的測試平台，以驗證新O-RU的互通性，包括ADI的low-PHY基頻、軟體定義收發器、電源，以及與Intel© FPGA整合的時脈。將Keysight的Open RAN模擬、訊號產生及訊號分析能力應用於廣泛的用例中，將改良測試流程，降低複雜性和縮短測試時間。
Keysight商用通訊部副總裁暨總經理Kailash Narayanan表示，很高興與O-RU技術解決方案領導者ADI合作協助服務供應商發揮O-RAN規範的全部潛力。Keysight及ADI將提供技術和測試解決方案，在無線電單元及核心網路之間建立有效的橋樑，加速開發和互通性測試。
據Dell-Oro Group預測，至2025年時，Open RAN技術將占整體無線電存取網路市場的10%以上。ADI和Keysight的合作將有助於提供業界過渡至開放、分立和虛擬化RAN (vRAN)架構的商業機會。
ADI無線通訊事業部副總裁Joe Barry表示，透過將ADI和Keysight雙方的技術、工具和設計資源整合，能夠為O-RAN生態系統提供穩固的平台，以加速開發可靠的O-RU。此合作使他們能為客戶提供開發經濟效益、節能且可交互操作之支援O-RAN O-RU的最快路徑。
基於O-RAN聯盟開放式介面的Open RAN基礎架構使行動營運業者能創建強健的多供應商網路環境，為製造、財務、運輸、物流和醫療保健企業提供先進的5G服務。從RAN邊緣至5G核心部分(5GC)，O-RU的性能驗證和網路單元之間的互通性測試使行動營運業者能在多供應商5G網路中高效部署O-RAN。
