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提升量測準確度 示波器ENOB值成關鍵指標

文‧Min-Jie Chong 發布日期:2011/12/08 關鍵字:示波器ENOB有效位元數雜訊位準Front-end安捷倫導管式ADC快閃式ADC

在挑選可有效執行量測的示波器時,系統品質是最重要的評估指標,當然頻寬、取樣率和記憶體深度等規格也是重要的比較基礎,但單憑這些規格並無法實際反映示波器量測品質。因此,經驗豐富的示波器使用者會進一步評估示波器的更新率、固有抖動、雜訊位準,以及所有可提升量測品質的規格。

檢視前端/ADC設計品質 首重ENOB/雜訊位準   

在示波器架構中,前端(Front-end)與ADC技術是提升量測準確度的關鍵要素,因為示波器前端可調理儀器取樣到的訊號,以便讓ADC可正確將訊號數位化。其中,示波器前端元件包含衰減器、前置放大器和訊號分配路徑,示波器設計工程師往往須費盡心力設計前端元件,才能獲得平坦的頻率響應、較低的雜訊,和所需的頻率下降度。  

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