T-Clock技術助攻 PXI實現同步整合測試 - 技術頻道 - 新電子科技雜誌 Micro-electronics


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T-Clock技術助攻 PXI實現同步整合測試

文‧小樵 發布日期:2012/06/25 關鍵字:DCT-ClockTClkATERFADCDACPLLSkewJitter抖動偏斜I/O混合訊號cTrig亞穩定Metastable

產品出廠前通常須進行許多不同測試,有的是數位訊號,有的是類比訊號,甚至有射頻(RF)訊號,但以往方式為使用大型的自動化測試系統(ATE),一台ATE幾乎可完成所有的測試,但對於現在低價產品來說,ATE售價昂貴,根本不符合成本需求,所以PXI測試平台便隨之而起;除具備由直流電(DC)、混合訊號至射頻等完整的模組化儀器外,還能快速建構整合測試系統,而要能達到整合同步測試,就需要仰賴T-Clock(TClk)技術。

由於單部儀器上的觸發/回應通道有限,或者因為需要混合訊號的觸發/回應通道,因此許多測試與量測應用,將須要對多部儀器進行時間控制與同步化。例如,一部示波器可能最多有四個通道,而訊號產生器最多有兩個通道。從電子業的混合訊號測試到科學方面的雷射光譜學,這些應用都須要對較多的通道進行時脈與同步化,或必須針對數位輸入/輸出通道,以及類比輸入/輸出通道,建立此兩分組之間的關係。  

使用取樣時脈進行同步化 

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