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安捷倫推出多通道天線校驗參考解決方案

發布日期:2014/07/16 關鍵字:Agilent天線DDC

安捷倫(Agilent)推出多通道天線校驗參考解決方案,可協助工程師在整合和製造過程中,全面進行大型多通道相位陣列天線的校驗和特性分析。安捷倫在今年初提出了模組化參考解決方案的新概念,而多通道天線校驗參考解決方案是該系列的第二位生力軍,其內含硬體、軟體和量測技術等所有必要的測試元件。

台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示,新的參考解決方案可對所有輸入通道提供相位同調取樣、範例軟體樣板,包括相對振幅,以及相位量測,讓客戶能夠消除測試瓶頸,逐一對大型相位陣列天線進行快速的元件校驗。

新款多通道天線校驗參考解決方案可提高每秒的天線量測次數,提供多通道相位同調並聯量測,並且透過即時數位降頻(DDC)技術來大幅減少資料量。此外,該系統可快速整合入多通道天線校驗測試環境中,以便使用近場窄頻測試陣列,對接收器進行通道校驗。

此參考解決方案還包括各種工具程式,例如專為特定應用高度客製化的範例程式原始碼,讓使用者能夠完全發揮其測試系統的性能。

安捷倫網址:www.agilent.com

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