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安捷倫發布LTE/LTE-A多通道PXI測試平台

發布日期:2014/07/21 關鍵字:AgilentPXIMIMO

安捷倫(Agilent)宣布推出LTE/LTE-Advanced多通道PXI測試解決方案,可加速多通道測試系統配置,讓工程師能夠更深入了解複雜的載波聚合和空間多工多重輸入多重輸出(MIMO)設計。

設計和評估用於基地台、微型基地台(Microcell)、特微型基地台(Picocell)、中繼器及行動裝置中的元件和射頻子系統,已變得越來越複雜,因為工程師須針對多天線系統設計進行極其複雜的多通道測試配置。

新款PXI測試解決方案提供高效能工具,以協助工程師產生複雜的LTE/LTE-A多通道/MIMO波形,並同時在頻域和調變域中進行多通道分析。該解決方案提供簡單易用的圖形操作介面,可縮短建立測試配置的時間;此外,其量測設定可將LTE/LTE-Advanced MIMO和載波聚合配置最佳化。

該測試解決方案的機箱背板觸發工具可用來配置和路由背板觸發器,以便讓多達兩個PXIe機箱的MIMO配置維持適當的時間同步。藉由使用M9381A射頻PXIe向量訊號產生器和M9391A PXIe向量訊號分析儀,工程師可輕鬆測試時間同步的MIMO(2×2或4×4)。這些儀器提供小於0.38%的EVM,並且在通道間維持不到20nsec的時間同步;另一方面,高達160MHz的訊號產生和分析頻寬可支援最寬的LTE-Advanced載波聚合應用。

安捷倫網址:www.agilent.com

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