是德全新BGA內插器加速DDR4×16設計測試

2015 年 04 月 14 日

是德科技(Keysight Technologies)宣布推出用於邏輯分析儀的全新球柵陣列(BGA)內插器解決方案。該款解決方案可快速且準確擷取位元址、指令和資料訊號,以進行設計除錯並驗證量測結果;且可與邏輯分析儀和E5849A探棒搭配使用,以協助工程師針對最新的第四代雙倍資料率(DDR4)×16動態隨機存取記憶體(DRAM)設計進行測試。


台灣是德科技總經理張志銘表示,客戶須要利用更精準的工具來實現3.2Gb/s的資料傳輸速率,並開發節能功能,藉由搭配使用新的內插器、探棒和邏輯分析儀系統,工程師可測試資料速率遠遠超出目前2400Mbit/s速率的DDR4×16記憶體。


隨著記憶體處理速度提高到3.2Gbit/s DDR4資料速率,設計伺服器和嵌入式裝置的新一代記憶體系統時,準確探量和訊號擷取是確保除錯和驗證成效關鍵。


據了解,W4631A內插器解決方案解決探棒連接性問題,讓工程師能輕易擷取DDR4×16 DRAM訊號,有效進行除錯和驗證,該探棒也適用於現有設計;利用隨附九十六球DDR4轉接卡(標準配備)或其他廠商的插槽(非標準配備),工程師可將探棒連接到DRAM球柵,以便用極低的負載操作並擷取高速DDR4訊號,且幾乎不影響嵌入式系統設計的訊號完整性。


是德科技網址:www.keysight.com.tw

標籤
相關文章

科磊發布新晶圓檢測解決方案套件

2012 年 02 月 01 日

儒卓力與Wilk Elektronik簽署全球經銷協定

2019 年 04 月 26 日

宜鼎新推FPGA應用工業級DRAM模組

2021 年 02 月 09 日

美光首款LPDDR5 uMCP送樣 5G智慧手機效能再提升

2020 年 03 月 25 日

宜鼎記憶體模組突破工業級寬溫標準

2021 年 10 月 28 日

美光新推Gen5消費級NVMe SSD/隨插即用DRAM

2023 年 06 月 05 日
前一篇
R&S/Fraunhofer HHI合推5G量測解決方案
下一篇
賽靈思推出新一代IP視頻連結解決方案