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安立知協助GCT完成LTE-A單晶片測試

發布日期:2015/04/30 關鍵字:AnritsuMD8430ARTD

安立知(Anritsu)運用其訊令測試儀--MD8430A和RTD(Rapid Test Designer)軟體,成功協助GCT完成4G進階長程演進計畫(LTE-A)單晶片測試。

GCT技術長暨研發副總裁Dr. Jeong-Min Kim表示,GCT利用安立知的設備測試LTE-A晶片,安立知的MD8430A訊令測試儀和RTD解決方案已被證明是良好平台,可支援如4×4多重輸入多重輸出(MIMO)等關鍵性能。

GCT是4G行動半導體解決方案設計供應商,提供搭載首款支援長程演進計畫(LTE)4×4 MIMO載波聚合(CA)技術的分頻多工(FDD)-分時多工(TDD) LTE Cat 5/6/7單晶片解決方案。GCT GDM7243Q晶片的運作及其4×4 MIMO功能,已通過訊令測試系統測試。4×4 MIMO是指在LTE基地台使用四支發射天線,並在用戶設備(UE)裝置內建四支接收天線,以提高頻譜效率,實現更高資料傳輸量和改善覆蓋範圍。

據了解,MD8430A LTE訊令測試儀,可模擬多達八支發射天線的基地台,而GCT研發團隊採用安立知RTD軟體控制的MD8430A測試儀,在4×4 MIMO連線下以高達300Mbps的速率進行傳輸,並驗證其晶片能在更長的時間周期下保持穩定的連接。

安立知執行副總裁Kenji Tanaka表示,很高興GCT選擇採用搭載RTD軟體的MD8430A驗證其4×4 MIMO性能。此舉也顯示安立知協助LTE設備製造商在激烈市場競爭中驗證其技術,並有效縮短產品上市時間。

安立知網址:www.us.anritsu.com

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