凌華將於6月舉辦智動化量測關鍵技術研討會 - 產業動態 - 新電子科技雜誌 Micro-electronics


熱門關鍵字:電源模組 | SiC | 機器視覺 | GaN | 5G

訂閱電子報

立刻輸入Email,獲取最新的資訊:


收藏功能:
分享報新知:
其他功能:

凌華將於6月舉辦智動化量測關鍵技術研討會

發布日期:2016/06/08 關鍵字:凌華科技ChromaPXI

凌華科技將於6月16日假台北矽谷國際會議中心2B會議廳,舉辦「智動化量測關鍵技術研討會」,偕同致茂電子(Chroma)與能高電子(OpenATE)分享最新量測趨勢與應用,以加速產品開發及專案時程。現場並展出半導體檢測、麥克風陣列噪音源定位系統、馬達動平衡與多媒體音頻測試等動態時機展示。

研討會內容介紹PXI模組化儀器產品在高速高精度訊號量測應用,包括多媒體裝置的音頻檢測方案、高效率電子元件測試解決方案、與振動量測應用於自動化廠房機台故障預測;再從PXI架構談多測試項目的整合與自動化,以及如何運用PXI來實現高速與高精度的電源供應和測量,最後再談PXI於半導體測試之應用等。從各式量測需求探討如何在追求高精度的同時,達到降低測試成本、提升測試效率,以及透過各產業案例,以深入淺出的方式說明最新量測技術、趨勢與應用。

除了分享量測的關鍵技術與趨勢之外,現場多達七套動態實機展示,使與會者將更清楚地了解實際的量測應用。展示內容包含:半導體檢測、麥克風陣列噪音源定位系統、機械故障預測、與多媒體音頻測試等。

凌華網址:www.adlinktech.com

研討會專區
主題式電子報
熱門文章