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NI將展出智能型自動化測試設備

發布日期:2016/09/07 關鍵字:STSATE開放式PXI

國家儀器(NI)將於9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期間,展出專為半導體生產環境而設計的NI半導體測試系統(Semiconductor Test System, STS),解決現今半導體公司面臨智慧裝置複雜化的挑戰,降低廠商從特性量測到生產製造的系統成本,進而協助半導體業者邁向智能型自動化測試設備(ATE)的階段。

將於本次大展亮相的NI半導體測試系統STS,具備開放式PXI架構,結合了模組化儀器與系統設計軟體,幫助測試系統工程師運用PXI儀器,滿足RF無線通訊和混合式訊號生產等最新半導體技術的測試需求。

相較於過往使用的傳統半導體自動化測試設備(ATE),STS提供半導體生產環境豐富的功能組合,包含可客製化的操作介面、分類機及針測機的整合、彈簧探針與待測裝置之間的銜接、標準測試資料格式(STDF)的報表製作及系統自動校準等功能,不僅提升工程師開發測試程式的速度、加以除錯並完成部署,更可讓半導體廠商縮短其產品的上市時間。

除了專為主流半導體生產設計的STS,NI提供的開放式PXI模組化硬體平台,可搭配圖型化的開發軟體LabVIEW及自動化測試排成管理TestStand,加速工程師開發RF無線通訊與混合式訊號測試的時間,並降低開發過程的總成本,讓半導體廠商享有更完整的自動化測試解決方案。

NI網址:www.ni.com

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