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國家儀器發表2017年自動化測試展望

發布日期:2017/02/18 關鍵字:巨量類比自動化測試量測儀控

國家儀器(NI)於近日發表2017年自動化測試展望。此年度測試與量測報告檢視影響自動化測試的主要技術,例如可重設測試儀器、軟體為主的測試平台、新一代裝置測試的生態系統等等。

NI創辦人與董事會主席Dr. James Truchard表示,第一代儀控的重點在於通用無線電與真空管,第二代則是惠普的電晶體技術,現在到了第三代,便輪到NI與軟體來引領潮流。一直以來該公司所倡導的軟體即是儀器,談的就是這個趨勢。該公司針對測試與量測儀控系統設計的使用者定義方法,讓工程師與科學家能可以在新一代的產品中突破創新,不像傳統儀控僅能依據上一年度的需求而設計。如果是傳統儀控,就只能看見過去的足跡。

NI 創辦人與董事會主席Dr. James Truchard在2017年自動化測試展望特輯中,回顧過去40年來的測試與量測、尋找近年最重要的市場與技術趨勢,並放眼展望未來。有許多趨勢對測試與量測產業的影響力,將持續多年(特別是巨量類比資料的解決方案與聯網裝置),2017年自動化測試展望,將一起重新回顧這些影響深遠的趨勢。

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