NI將展出工業物聯網量測與控制應用解決方案

2017 年 09 月 01 日

國家儀器(NI)將於9月6日到9月9日,參加2017年台北國際自動化工業大展,揭開工業物聯網最先進的量測與控制應用,以及邊緣運算(Edge Computing)最理想的解決方案,並透過現場實機展示讓與會者體驗工業4.0的技術新思維。

在大數據蓬勃發展的時代,許多企業開始研發能夠擷取工廠實際層(The Edge)與設備數據的邊緣運算技術,讓工程師能在嚴苛的工業環境下,運用最佳的邊緣運算裝置進行量測工程。

該展覽中,NI將展出的NI CompactRIO嵌入式應用控制平台,即具備高穩定的架構以減少機器維護成本,即時資料分析能滿足邊緣裝置作業的需求,支援多通訊訊號處理功能與裝置聯網能力,協助企業加速工廠部署感測器節點,並突破工程師在第一線的研發困境。NI CompactRIO為工業物聯網最佳的開發平台,應用層面涵蓋機械狀態監控、進階運動控制、智慧電網監控分析與機器視覺整合等領域。

此次展覽NI更攜手台耀科技與均鈺科技進行實機展示。台耀科技的FPGA高速視覚檢測機台,透過LabVIEW開發視覺檢測的相關應用,並搭載NI Single-Board RIO單板嵌入式系統,以使用FPGA技術實現彈性噴嘴控制與觸發功能。均鈺科技的FPGA雷射修阻機(Laser Trimmer),則以PXI模組化量測控制系統,搭配PXI FPGA與SMU,完成高速雷切功率控制與精準電阻值的量測,建構節省空間且靈活運用的FPGA雷射修阻機。

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