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半導體製程日新月異 NSD成ADC選擇新指標

文‧David Robertson/Gabriele Manganaro 發布日期:2018/02/18

近來,高速和超高速ADC及數位處理在各種場合中普及率的不斷提高,讓超取樣(Oversampling)漸漸成為寬頻和射頻系統的一個實際可行的架構方法。半導體製程的縮小化,已促使速度的提升及成本的降低(費用、功耗、電路板面積等)達到相當大的改進,讓系統設計人員得以使用具有平坦雜訊頻譜密度(Noise Spectral Density, NSD)的寬頻轉換器,或是針對所需頻帶具有高動態範圍的頻帶限制型Σ-Δ轉換器,來探索各種不同的轉換和處理途徑。這些技術,改變了設計工程師對於訊號處理所需考慮的方式,以及他們定義產品的方式。

NSD與其在關注頻帶上的分布,可提供深入的探究,以及轉換器選擇過程的參考指標。

如果要對運行速度差異很大的系統進行比較時,或是要探討軟體定義系統是如何來處理不同帶寬的訊號時,雜訊頻譜密度通常會比信雜比(SNR)規格來得有用許多。雖然雜訊頻譜密度並不會取代掉其他的規格,但它的確是一個值得加入分析工具箱中的有用項目。

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