專訪NI亞太區半導體市場開發經理潘建安　混合訊號測試帶動開放式ATE

為了在晶片上整合更多功能，加上在物聯網概念的風潮下，越來越多應用需要具備感知真實世界訊號的能力，新一代晶片設計不僅更複雜，而且除了數位邏輯、內嵌式記憶體外，還增加了更多通訊、感測等類比功能。混合訊號晶片大行其道，正在改變市場需求的樣貌，也讓國家儀器(NI)找到了切入半導體測試的契機。

國家儀器亞太區半導體市場開發經理潘建安指出，5G無線通訊跟物聯網的興起，對半導體元件市場造成很大的影響。未來的晶片功能不只越來越複雜，晶片內部的電路型態也會有很大的差異。除了數位電路外，還會有跟通訊、感測相關的類比電路。傳統的ATE設備在數位電路測試有其優勢，但面對種類繁多的類比功能測試，卻顯得力有未逮。因為傳統ATE多為封閉架構，其測試板卡都只能靠原廠提供，功能更新的速度很慢，而且單價非常昂貴。

這個狀況讓NI看到切入半導體測試市場的機會。NI是一家平台公司，其測試硬體均基於開放的PXI平台，除了NI本身之外，PXI系統聯盟的成員中也有眾多板卡供應商，因此PXI平台的功能演進速度遠比封閉式機台來得快，而且所採用的元件跟設計架構往往是業界最新、最先進的，故除了成本優勢之外，效能也未必比傳統ATE機台遜色。針對半導體測試，NI提出的半導體測試系統(STS)雖然外觀跟傳統ATE沒有差別，但內部結構卻是基於PXI的模組化設計，用戶可以按照自己的測試需求選購對應板卡，組成客製化測試系統。值得一提的是，這些模組也可以組成實驗室使用的桌上型PXI儀器，加上通用的LabView跟TestStand軟體環境，用戶在實驗室跟量產階段使用的，其實是同一套儀器，相關測試程式也不用重複撰寫。