專訪NI亞太區半導體市場開發經理潘建安 混合訊號測試帶動開放式ATE - 市場話題 - 新電子科技雜誌 Micro-electronics


熱門關鍵字:USB PD | 自駕車 | 藍牙5 | NB-IoT | AI

訂閱電子報

立刻輸入Email,獲取最新的資訊:


收藏功能:
分享報新知:
其他功能:

專訪NI亞太區半導體市場開發經理潘建安 混合訊號測試帶動開放式ATE

文‧黃繼寬 發布日期:2018/09/09 關鍵字:國家儀器,PXI,LabView,Test Stand

為了在晶片上整合更多功能,加上在物聯網概念的風潮下,越來越多應用需要具備感知真實世界訊號的能力,新一代晶片設計不僅更複雜,而且除了數位邏輯、內嵌式記憶體外,還增加了更多通訊、感測等類比功能。混合訊號晶片大行其道,正在改變市場需求的樣貌,也讓國家儀器(NI)找到了切入半導體測試的契機。

國家儀器亞太區半導體市場開發經理潘建安指出,5G無線通訊跟物聯網的興起,對半導體元件市場造成很大的影響。未來的晶片功能不只越來越複雜,晶片內部的電路型態也會有很大的差異。除了數位電路外,還會有跟通訊、感測相關的類比電路。傳統的ATE設備在數位電路測試有其優勢,但面對種類繁多的類比功能測試,卻顯得力有未逮。因為傳統ATE多為封閉架構,其測試板卡都只能靠原廠提供,功能更新的速度很慢,而且單價非常昂貴。

這個狀況讓NI看到切入半導體測試市場的機會。NI是一家平台公司,其測試硬體均基於開放的PXI平台,除了NI本身之外,PXI系統聯盟的成員中也有眾多板卡供應商,因此PXI平台的功能演進速度遠比封閉式機台來得快,而且所採用的元件跟設計架構往往是業界最新、最先進的,故除了成本優勢之外,效能也未必比傳統ATE機台遜色。針對半導體測試,NI提出的半導體測試系統(STS)雖然外觀跟傳統ATE沒有差別,但內部結構卻是基於PXI的模組化設計,用戶可以按照自己的測試需求選購對應板卡,組成客製化測試系統。值得一提的是,這些模組也可以組成實驗室使用的桌上型PXI儀器,加上通用的LabView跟TestStand軟體環境,用戶在實驗室跟量產階段使用的,其實是同一套儀器,相關測試程式也不用重複撰寫。

》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
研討會專區
熱門文章