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愛德萬將於韓國SEMICON展示最新方案

發布日期:2019/01/25 關鍵字:5GSSDSEM

半導體測試設備領導廠商愛德萬測試將於南韓首爾市國際會展中心所舉辦的SEMICON國際半導體展上,展示該公司多種先進的IC測試及晶圓檢測解決方案。

愛德萬測試專心致力於協助客戶量測互聯網的世界與探究其中奧秘,以及所有加速5G技術發展的事物。該公司的產品組合不僅深受韓國客戶的肯定,更是為了符合全球5G通訊市場的需求所設計。

愛德萬測試將展示該公司目前所發表的最新測試系統與各項進階功能,包括MPT3000平台的最新升級版,也是業界首創、能夠全面整合開發、除錯與量產PCIe Gen 4固態硬碟(SSD)的解決方案;可靈活運用的T5851,則是符合下一代移動協議NAND,包括UFS3.x、以及PCIe Gen4 BGA的記憶體測試器;而T5503HS2系統,是唯一能夠評估新一代高速LPDDR5及DDR5記憶體進階功能的測試機台。

另外,還有HiFix高速記憶體測試解決方案,能夠以超過16Gbps的速度,支援先進設備測試;以及適合奈米技術應用的量測解決方案,包括用於光罩和晶圓的愛德萬E3650、E5610和E3310掃描式電子顯微鏡(SEM),以及適用於1X-nm製程的F7000電子束光刻系統等等。另外,攤位上也將設有自動展示區,說明如何以愛德萬的測試解決方案,來改善從感應器到通訊等,所有機載電子設備的性能與可靠度。

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