落實故障測試及失效定位 IPM可靠性挑戰迎刃解

作者: 吳淩 / 遊俊 / 黃彩清 / 龔瑜
2019 年 02 月 26 日
隨著工業製造水準的提升,智慧功率模組(IPM)的生產技術得已發展迅速,元件的可靠性將是未來研究所面臨的新挑戰。針對國內外近年來在智慧功率模組失效分析相關的主要研究內容,本文綜述了智慧功率模組應用失效的測試方法以及失效定位技術,總結了連續性失效、絕緣性失效、驅動晶片(HVIC)故障、絕緣閘雙極電晶體(IGBT)故障,以及NTC故障的測試方法,並分析了這些元件故障可能的失效原因。最終總結了通過測試方法進行快速IPM失效的故障定位方法。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

滿足高畫質需求 64掃LED顯示器驅動晶片給力

2021 年 10 月 01 日

提升電源密度/系統效率 交錯式PFC技高一籌

2008 年 03 月 26 日

挑戰低碳排放 綠色汽車生態系統革新登場

2011 年 06 月 02 日

精準調整無刷馬達轉速 MCU打造智慧型空氣清淨機

2012 年 04 月 23 日

慎選訊號注入變壓器 電源電路穩定性量測更精確

2015 年 10 月 24 日

SRAM微縮面臨瓶頸 SOT-MRAM技術可望接棒

2025 年 06 月 06 日
前一篇
加速工業4.0應用步伐 TI三管齊下打造完善生態系
下一篇
安謀推出新一代Armv8.1-M架構與Helium技術