落實故障測試及失效定位　IPM可靠性挑戰迎刃解

隨著工業製造水準的提升，智慧功率模組(IPM)的生產技術得已發展迅速，元件的可靠性將是未來研究所面臨的新挑戰。針對國內外近年來在智慧功率模組失效分析相關的主要研究內容，本文綜述了智慧功率模組應用失效的測試方法以及失效定位技術，總結了連續性失效、絕緣性失效、驅動晶片(HVIC)故障、絕緣閘雙極電晶體(IGBT)故障，以及NTC故障的測試方法，並分析了這些元件故障可能的失效原因。最終總結了通過測試方法進行快速IPM失效的故障定位方法。

IPM即智慧功率模組，將功率開關元件和驅動電路整合在一起，內部包括過壓保護、過流保護、過溫保護、短路保護、欠壓保護等檢測電路。當發生負載事故或使用不當時，可將檢測訊號發送至CPU，確保不受損壞。IPM因其運作可靠性高、功能強大，並具備自診斷和保護功能，廣泛應用於驅動馬達的變頻器和各種逆變電源。

IPM的使用過程中會產生各種故障，在盡可能減少破壞晶片的同時，透過功能測試的方式快速定位失效位置是一項非常關鍵的技術，也是不可或缺的一個重要環節。本文從智慧功率模組的結構開始，主要介紹IPM電路結構和模組測試方法，為快速故障區域定位提供依據，大幅縮短失效分析週期。