落實故障測試及失效定位　IPM可靠性挑戰迎刃解

作者： 吳淩 / 遊俊 / 黃彩清 / 龔瑜
2019 年 02 月 26 日
隨著工業製造水準的提升，智慧功率模組(IPM)的生產技術得已發展迅速，元件的可靠性將是未來研究所面臨的新挑戰。針對國內外近年來在智慧功率模組失效分析相關的主要研究內容，本文綜述了智慧功率模組應用失效的測試方法以及失效定位技術，總結了連續性失效、絕緣性失效、驅動晶片(HVIC)故障、絕緣閘雙極電晶體(IGBT)故障，以及NTC故障的測試方法，並分析了這些元件故障可能的失效原因。最終總結了通過測試方法進行快速IPM失效的故障定位方法。
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