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NFC結合自我診斷 嵌入式產品品質一目瞭然

文‧Kamaldeep Bansal 發布日期:2019/10/10 關鍵字:NFC自我診斷NFC智慧連接STM32LRFID

現今,電子產品堪稱無處不在,而電子系統的快速普及應用,歸功於大規模整合性電子元件的出現。例如,非常複雜的運算密集型微控制器和系統單晶片(SoC);然而,隨著白色家電和電子產品設計日益複雜,設計人員不得不開始關注產品的易用性和排除故障的便利性。不過,要實現複雜的設計,產品內部的除錯資訊可說是不可或缺,如果出現系統錯誤或失敗,可在產品生命週期的各個階段檢索和檢查錯誤,如圖1所示。

對於嵌入式系統,產品可靠性監測和認證流程可能需要長時間查看產品的性能表現。人工監測系統的可行性不高,效率低下;大資料分析難度也不小,而且還需要特定的分析方法。對於間歇性錯誤或條件性錯誤,只有在正確記錄事件和錯誤後才能排錯。開發人員可以隨時查看錯誤資料,將這些資訊輸出到外部進行分析,需要占用少量的記憶體空間,或者需要轉儲內部資訊。

系統自我診斷和錯誤代碼或消息有助於保證產品開發和製造品質,優化測試時間和生產測試,甚至售後支援。如果出現錯誤,系統將會指示是哪些元件無法正常通訊而導致錯誤發生。技術人員可以輕鬆測試或排錯,維修產品。

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