滿足寬能隙元件測試 量測設備首重高電壓/電流 - 市場話題 - 新電子科技雜誌 Micro-electronics


熱門關鍵字:SiC | 機器視覺 | GaN | 5G | 自駕車

訂閱電子報

立刻輸入Email,獲取最新的資訊:


收藏功能:
分享報新知:
其他功能:

滿足寬能隙元件測試 量測設備首重高電壓/電流

文‧侯冠州 發布日期:2019/10/14 關鍵字:SiCGaN太克是德CMRR動態量測

寬能隙解決方案相繼問世,在相關產品測試需求逐漸增加的情況下,量測業者陸續推出高效、便利的解決方案,在滿足市場測試需求的同時,也助力縮短寬能隙方案開發時程。

寬能隙功率半導體(SiC,GaN)具備更高的操作溫度、高運行電壓、高運作頻率和低功率損耗。採用寬能隙功率元件,能夠使得導通時及切換時的耗損能量降低,讓整體運作功率大幅下降,同時明顯降低設備的體積、重量及價格。為此,寬能隙解決方案備受電源供應業者青睞,且已逐步進入量產階段,終端產品亦已開始銷售。

然而,寬能隙材料的功率元件,最引人矚目的優勢是建立在高頻與高電壓操作上,在終端產品相繼於市場亮相的同時,也意味著寬能隙元件的測試需求隨之增加,為此,量測儀器業者紛紛推出高效、便利的解決方案,不僅滿足高電壓、高電流測試需求,並進一步縮短產品開發時程。

》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
研討會專區
熱門文章