測試與量測解決方案供應商太克(Tektronix)日前發布了新款Keithley S530系列參數測試系統，以及 KTE 7 軟體和其他增強功能。S530 平台使半導體製造廠能為高速成長的新技術增添參數測試能力，同時有效地降低 CAPEX 投資，並顯著地提升每小時晶圓產量。總體擁有成本隨之降低後，將有助於製造商在競爭激烈的新市場中因應龐大的價格壓力。
奠基於新興寬能隙(WBG)技術的新型半導體產品(如GaN和SiC)有望達成更快的切換速度、更寬的溫度範圍、更好的電源效率以及其他優勢。為了滿足這些產品的測試需求，以 KTE 7 為基礎的 S530 平台提供了實驗室等級的量測效能，以及較短的設定和測試時間。隨著新應用的出現和需求的變化，高達 1100V的高速、全彈性的解決方案亦應運而生。這使晶片製造商能夠以最少的投資，在單一系統上利用最短的測試/設定時間，經濟高效地將其擴展至高速成長的電源和WBG裝置(包括汽車市場)中。
Keithley/Tektronix副總裁兼總經理Chris Bohn表示，類比和混合訊號半導體製造商在 5G 通訊、汽車、物聯網、醫療、綠色能源和其他市場中不斷面臨各種新型最終用途應用的旺盛需求。這個重要的測試平台更新有助於這些客戶能更快速、更具成本效益地將新產品推向市場，同時使他們能夠靈活地適應未來的新需求。
S530 系列的創新功能可在廣泛的產品組合中顯著提升測試儀的利用率，並輕鬆遷移現有的測試軟體、探棒卡和其他產品，同時提供完整的資料關聯性、有效提升測試速度。S530-HV 機型能夠在任何針腳上測試高達 1100V 的電壓，與電源和WBG應用中的其他競爭系統相較，可將輸送量提高50%以上。晶片製造商可以使用單一系統測試多種產品組合，包括根據 IATF-16949 品質管理標準的汽車產品。客戶可在內部進行校驗以盡可能地降低停機時間，也可以透過 Tektronix 的服務機構完成校驗，享有全球高品質個人支援服務。
