隨著汽車所需的晶片數量增加，以及IC的複雜度倍增，測試設備的需求持續成長。當晶片的測試複雜度提升，測試時間因此增加，但是IC廠商仍希望盡可能縮短測試時間，這樣的需求為自動測試設備(ATE)供應商帶來挑戰。測試設備廠商愛德萬面對產品測試所需的運算效能提升，推出測試半導體、記憶體與影像感測元件(CIS)的設備。
測試設備的市場需求持續成長，愛德萬測試董事長暨總經理吳萬錕指出，測試設備的數量變化，與市場上推出的IC、電子設備的產品數量高度相關，尤其半導體測試的需求受到先進製程量產的時程影響。根據VLSI Research的預估，2022年測試設備的營收，全球記憶體測試設備將成長13%，達到14億美元，SoC測試設備的營收將成長23%，創造51億美元的營收，可見測試設備的商機將持續擴大。SoC測試需求的提升，動能來自5G手機普及，以及高效能運算的產品增加。記憶體發展則由韓國廠商領頭，測試需求會在新一代的記憶體標準普及的時期出現明顯的成長。
針對DRAM與NAND快閃記憶體的測試，愛德萬推出T5835產品系列，其系統可滿足傳輸速度達5.4 Gbps的記憶體IC，包含NAND快閃記憶體、DDR與LPDDR DRAM晶片的測試需求。同時T5835搭配平台應用，提升晶圓測試的彈性。軟體方面，Link Scale系列數位通道卡專為V93000平台設計，提供以軟體為主的功能性測試，提供元件廠商與終端應用類似的韌體及驅動程式，確保產品在終端應用的功能符合預期。
另一方面，智慧型手機的相機畫素倍數成長，已有品牌廠推出相機畫素破億的產品，也使得測試CIS元件的資料流增加。因此愛德萬提供T2000 IPE4系統，該系統的運算效能較前一代產品提升10倍，可以快速處理大量的影像資料，可縮短測試CIS元件耗費的時間與成本。除了強化算力，該產品的資料庫經過優化，所提供的演算法適合高速影像處理環境，有助於測試程式的研發。
