【65奈米光罩檢測系列(三)】檢測65奈米光罩缺陷　反射光與穿透光模式相輔相成

在新電子251期中，已深入探討在65奈米製程中規畫缺陷的反射光與穿透光檢測模式，並提出通用於兩種檢測模式的缺陷偵測的建議規則。本期文章中，則在兩個圖案對圖案模式中，處理實際的產品光罩。  ...
2007 年 03 月 29 日

兼具量測結果佳/節省時間特性　CFD有助LED導入實際應用設計

發光二極體(LED)元件的計算流體動力分析(Computational Fluid Dynamic, CFD)模型的建立，因CFD逐漸被導入設計流程後變得越加重要，本文將比較安華高(Avago)高功率LED封裝ASMT-MX00在MCPCB與雙層...
2007 年 03 月 29 日

藍光世紀對決爭高下　HD DVD播放器設計深具巧思

至今，HD與藍光(Blu-ray)DVD的世紀對決勝負仍未有定奪。東芝(Toshiba)已於2006年3月底率先推出HD DVD播放機(圖1)。此外，東芝的高階17吋的筆記型電腦亦隨即納入HD DVD...
2007 年 03 月 29 日

【光電】強化LED背光應用效能　時間延遲滯後式電流控制技術問世

液晶顯示器(LCD)的背光板對電力消耗、影像畫質以及面板壽命都有相當大的影響，雖然發光二極體(LED)背光陣列已經在這些方面有所改善，但若需要穩定的光度輸出、均衡色彩，以及更佳散熱等傳統限流電阻無法達到的功能，就須導入強化的LED電流控制技術。本文提出一種「時間延遲滯後式電流控制...
2007 年 03 月 06 日

【量測應用專欄(三)】USB裝置聲聲催　邏輯分析儀/圖案產生器成顯學

在進行相關閱讀之前，讀者務必了解一些名詞的定義。如邏輯分析儀(Logic Analyzer)為可量測隨著時間而變化電壓的儀器。相較於傳統示波器顯示連續性電壓值變化，邏輯分析儀分別顯示「高」與「低」兩值的電壓，且它的輸入頻道數比示波器多，一般最少有8個頻道，多者超過100個頻道。在一般情況下，一個頻道相當於1位元。圖案產生器(Pattern...
2007 年 03 月 06 日

【HDMI技術專欄(11)】HDMI1.3衍生截止頻率元件需求　共模濾波器有效降低

影像視訊資料的高精細化、電子產品輕薄短小化促使串列式介面順勢興起。以較少的接腳數量載送更多的資訊。未來，無論是在裝置的內部或外部介面將朝不斷提升傳送速度的方向發展。   ...
2007 年 03 月 06 日

滿足多元功能電力需求　DC/DC轉換器簡化手持裝置供電設計

由於大部分PMP具有影片和MP3播放器雙重功能，其內部電子元件需各種不同功率位準的多重低電壓輸出端，大多數大型數位積體(LSI)IC的工作電壓為 1.5伏特或更低，同時記憶體和I/O需求電壓可在2.5伏特和3.3伏特間變動，使用直接接自鋰離子電池的多重負載點(POL)DC/DC轉換器已不敷使用，因此系統設計者正採更具整合性的解決方案。 ...
2007 年 03 月 02 日

HDMI 1.3登場　CEC訊號線實現顯性功能

2006年的11月11日，新力(Sony)PS3上市，在有效的行銷威力下，造成搶購熱潮，11月19日，任天堂Wii也隨即火熱上市，賣勢更為兇猛，兩家廠商正面衝突搶地盤的意圖明顯，無論孰勝孰負，皆代表最新高解析度多媒體介面(High...
2007 年 03 月 02 日

充分利用太陽能　熱泵熱水器兼具環保/安全特性

地球外表的大氣層吸收太陽能，加上溫室效應使得大氣層形同一個巨大的太陽能儲存庫，而台灣位處亞熱帶地區，終年暖和，大氣熱能資源極為豐富，是利用熱泵原理擷取太陽能之最佳地點。   ...
2007 年 03 月 02 日

圖形背景與排列方向影響偵測效果　穿透光與反射光檢測各擅勝場

反射光在超紫外線微影技術(EUV)世代的應用已甚為重要，特別是在65奈米製程中，更可利用反射光來增強光罩圖案的檢測。在新電子250期中，已了解傳統鉻膜式(Binary)光罩及半透式(Half-tone)光罩在110奈米製程圖形中，使用穿透光與反射光進行規畫缺陷(Programmed...
2007 年 03 月 02 日

力促LED照明光源成形　GaN高輝度白色光源技術問世

目前主流白光LED，是由發光層使用氮化銦鎵的藍光LED晶片塗布黃色發光螢光體的結構構成(圖1)。   有關白色發光的動作原理，從LED釋放部份藍光，透過螢光體作黃色轉換，具有補色關係的藍光與黃光線混合，形成肉眼可視感的白光。以(Y1-aGda)3...
2007 年 03 月 02 日

剖析取樣器測試操作原理　有效處理高速類比訊號輸出

大多數的數位訊號處理書籍在論及低值取樣 (Under Sampling)時多半認為是一種造成疊化(Aliasing)的錯誤現象，是訊號處理過程中應該極力避免的，然而在混合訊號晶片測試、更高頻的射頻 (RF)以及微波測試領域，應用低值取樣原理可有效降低儀器的訊號取樣頻率，至於疊化產生的影響則可透過小心的輸入訊號安排及輸出訊號分析加以消除。本文主要介紹一種利用低值取樣原理進行晶片輸出訊號取樣的儀器—取樣器(Sampler)，除介紹取樣器功能及測試流程，並解釋低值取樣對於分立頻譜...
2007 年 03 月 02 日
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