瞄準長程演進計畫(LTE)產品測試需求，量測業者也秣馬厲兵強化儀器功能，其中安捷倫(Agilent)強打整合電子設計自動化(EDA)工具的一貫化解決方案，特別是藉由獨有的射頻EDA工具與儀器結合，可協助廠商在測試過程中同時優化設計，對晶片、設備業者而言極具。
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| 台灣安捷倫電子量測事業群行銷處副總經理羅大鈞表示，4G多頻多模已成業界研發方向，解決各種技術及頻段相互干擾的問題，將是儀器商站穩4G市場的關鍵。 |
台灣安捷倫電子量測事業群行銷處副總經理羅大鈞表示，隨著全球LTE商用發展開枝散葉，包括晶片端、電信網路端，乃至於設備端的量測需求已大量湧現，促使許多儀器商競相投入LTE測試方案布局。有別於其他業者，安捷倫可提供從上到下的全方位解決方案，除完整測試儀器外，更涵蓋EDA工具，因而從產品設計到聯網、互通相容(IOT)和量產穩定測試無所不包，在這場量測競賽中更甚一籌。
台灣安捷倫電子量測事業群應用工程部協理陳俊宇進一步指出，針對無線射頻(RF)和微波(Microwave)設計，安捷倫已發布最新版的2011先進設計系統(ADS)，可透過電磁模擬技術，協助工程師建立產品的仿真(EM)模型，藉以挑出設計缺陷，加速產品開發時程。尤其目前4G晶片走向多頻多模支援已成定局，將該軟體加入安捷倫一系列LTE量測方案陣容後，更可讓晶片商、晶圓代工廠及設備製造商在設計改善與系統測試上一氣呵成，大幅節省時間及成本。
陳俊宇強調，ADS 2011有助LTE系統解決多重輸入多重輸出(MIMO)天線設計的挑戰，實現多通道模擬測試，尤其目前全球電信業者運行LTE頻段不一，再加上現有的2G和3G後，相關設備往往須支援四到六個頻段以上，讓設計愈趨複雜，因此，ADS 2011將成為絕佳的開發幫手。
據了解，安捷倫針對分時(TD)/分頻雙工(FDD)-LTE所提供的量測方案陣容，包括MXE系列電磁干擾(EMI)訊號分析儀、N5106A PXB基頻產生器及通道模擬器、無線數位跨域(RDX)解決方案、E6621A無線測試儀、N6070A訊號相容性測試儀、N7100多通道訊號分析系統，以及射頻與訊令相容性測試系統等。此外，瞄準未來先進長程演進計畫(LTE-Advanced)的發展趨勢，亦以向量訊號分析軟體89600B VSA SW為MIMO測試、載波聚合(Carrier Aggregation)等設計挑戰提供完整支援。
羅大鈞也透露，目前業界的LTE量測方案均宣稱擁有全方位支援，但卻沒有自家的EDA工具，而須尋求如AWR等相關廠商的協助，形成儀器與軟體間難以匹配的局面，系統相容性將成一大疑慮。反觀安捷倫ADS 2011與自家產品的相容性則無此顧慮，且該工具已廣泛被高通(Qualcomm)、三星(Samsung)、意法易立信(ST-Ericsson)、思寬(Sequans)、GCT和聯發科等一線行動晶片商採用，足見其備受市場肯定。
值得一提的是，隨著TD-LTE的發展增溫，儀器商也開始整軍經武，藉優化軟體支援能力搶進TD-LTE量測領域。陳俊宇強調，由於TD-LTE係在中國大陸崛起的4G技術，安捷倫已透過在北京的研發中心，針對中國特定通訊標準進行研發，並與北京創毅視訊密切合作，共同制定TD-LTE資料傳輸器的射頻測試規範。
同時，陳俊宇分析，中國移動全力推展TD-LTE之際，與台灣交通大學、網通設備廠、晶片和量測業者共組的第四代行動寬頻測試研發平台(4G Testbed)中心，主要目的就是希望能拉攏台灣業者加速TD-LTE產品開發，進一步促成該技術普及。而安捷倫亦在其中扮演重要的儀器供應角色，在未來TD-LTE市場已取得極佳的發展位置。
