EDS能譜判讀精準校正 分析偽訊號/能峰重疊(2)

作者: 鮑忠興
2024 年 07 月 03 日
TEM/EDS除了用於本文中提到的材料元素分析,TEM/EDS亦可應用於材料濃度的成份定量分析。EDS定量分析技術利用待分析物周圍已知成份,進行自我校正計算,可提高EDS定量分析的準確度。 (承前文)圖4的橫軸是原子序,縱軸是Cu...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

EDS能譜判讀精準校正 分析偽訊號/能峰重疊(1)

2024 年 07 月 03 日

發掘製程可疑缺陷 IC切片把關樣品功能性測試

2022 年 09 月 26 日

堆疊式CIS故障分析 多管齊下解決CIS異常

2023 年 03 月 16 日

TEM分析穩固GaN元件功能 掌握差排晶體缺陷(1)

2024 年 02 月 02 日

TEM分析穩固GaN元件功能 掌握差排晶體缺陷(2)

2024 年 02 月 02 日

TEM破解半導體差排軌跡 找出晶片漏電真因(1)

2024 年 05 月 03 日
前一篇
華晶邊緣AI影像應用賦能智慧駕駛
下一篇
EDS能譜判讀精準校正 分析偽訊號/能峰重疊(1)