FormFactor推出Harmony XP晶圓探針卡

2007 年 02 月 26 日

FormFacto推出Harmony XP探針卡，擴增其Harmony系列全區域12吋晶圓探針卡產品陣容，先進的晶圓偵測解決方案支援高密度行動通訊/一般商品/繪圖產品專用DRAM元件，為每粒晶圓帶來最低整體測試成本。專為這些裝置之高標準技術挑戰而量身設計的Harmony XP探針卡，以使DRAM製造商達到其在更高針腳數/時脈/平行化測試/縮減銲墊/間距尺吋的產品藍圖需求。
 

Harmony XP晶圓探針卡結合FormFactor生產驗證的MicroSpring技術，以支援高度平行化的測試作業。探針卡創新的彈簧型設計，讓Harmony XP探針卡能支援超過5萬個MircoSpring接觸點，使其可測試高密度的行動裝置專用DRAM/各種繪圖元件。
 

Harmony XP探針卡提供1個能支援300 MHz的測試頻率選項方案，不僅能縮短測試時間，亦能支援各種已知良好晶粒(KGD)的應用。減少探針卡在測試所有元件的接觸測試次數，長久以來一直協助業者降低DRAM的整體測試成本。Harmony XP的整體系統方案亦提供探針卡的傾斜調整機制/縮短探針卡設定時間，進而提高測試單元的生產力。
 

FormFacto網址：www.formfactor.com
 

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