MEMS麥克風測試商機爆發。隨著行動裝置、車載資通訊和穿戴式電子擴大導入語音控制功能，MEMS麥克風出貨量正快速翻升，帶動新一波元件測試商機，激勵儀器商加碼研發PXI模組化半導體測試儀器，以滿足與日俱增的MEMS麥克風測試需求。
由於MEMS麥克風晶片商日益追求更快的測試時程和更低測試成本，因此美商國家儀器遂以LabVIEW可編程軟體平台，搭配低成本、高彈性的PXI模組化硬體架構，開發新一代半導體自動化測試系統，期協助MEMS麥克風晶片業者突破採用大型自動化測試設備(ATE)，難以降低儀器占位空間和測試成本的桎梏。
美商國家儀器資深銷售副總裁Pete Zogas表示，隨著MEMS麥克風快速放量，晶片商對測試效率和成本效益的要求也明顯提高，遂積極尋求系統層級的PXI自動化測試方案，期以較低成本增加測試產能。
Zogas進一步指出，基於LabVIEW加PXI架構的半導體自動化測試方案，不僅具備模組化、可編程效益，有助元件商快速設定上線、客製化測試流程並降低設備體積，亦可搭配高效能現場可編程閘陣列(FPGA)，引進快速傅立葉轉換(FFT)等高階演算法，進而提高數倍測試速度；對於滿足需求急速湧現的MEMS麥克風測試而言，將有莫大助益。
據悉，MEMS麥克風測試須兼顧類比和數位測試功能，而傳統ATE雖具有高速數位設計優勢，但面臨擴充類比資料擷取、轉換與分析設備的需求時，就須一筆可觀的花費。PXI自動化測試方案結合LabVIEW、PXI與FPGA的優勢特性，不僅能滿足MEMS麥克風各種類比和數位測試需求，相較於傳統ATE系統，更可提升約二十倍的測試速度。
