美商國家儀器(NI)將於2014年的國際半導體展(SEMICON Taiwan 2014)發表全新半導體測試系統(Semiconductor Test System, STS)，適用於射頻(RF)和混合式訊號生產測試。
半導體晶片的設計難度不斷提升，需要更高階的測試系統描述效能特性，並進一步提高測試成本。NI透過高彈性的硬體平台PXI，與多Site平行測試排程軟體，有助於降低晶片測試的成本。
新型半導體測試儀搭載Port Module，可同時進行多埠的S參數與調變訊號測試，目前已獲多家半導體廠商採用，以大幅提升其產品效能與降低開發成本。此款半導體測試系統，為NI今年半導體展的重點所在，同時NI將於現場展示半導體領域各項相關應用解決方案，藉由PXI平台的彈性與效能，可為客戶帶來更高的工作績效與成果，
美商國家儀器網址：www.ni.com
