NI展示Pre-5G波形產生/量測技術

2017 年 07 月 31 日

國家儀器(NI)日前於夏威夷檀香山舉行的2017年國際微波會議 (International Microwave Symposium, IMS)中,正式展示Pre-5G波形產生與量測技術。該場技術展示主要強調Verizon 5G 技術論壇(5GTF)與3GPP提議之新無線電(NR)實體層,在訊號產生與波形分析的代表性地位。

NI無線設計與測試部門副總裁Charles Schroeder表示,在測試與量測作業上,由於該公司通常採取軟體為主的方式,得以隨著軟體開發一併革新PXI測試系統,透過這類做法,工程師日後便能採用目前用來測試LTE-A與LTE-A Pro產品的相同VST架構測試系統,來測試5G產品。

此次技術展示結合運用了1GHz頻寬的PXIe-5840第二代向量訊號收發器(VST),以及用於調變及解調的Pre-5G軟體。重要的波形調變功能,則包括同時支援離散傅立葉轉換展頻正交頻分多工(DFT-S-OFDM)與正交頻分多工存取(OFDMA),以及彈性的子載波間距與元件載波組態,後者可支援3GPP 5G NR與Verizon 5GTF規格,且總支援頻寬高達1GHz。此項技術展示的傳統應用範圍包括測試RFIC,例如RF功率放大器、前端模組與收發器。

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