NI新款SMU量測速度比傳統快一百倍

2014 年 06 月 04 日

美商國家儀器(NI)推出系統電源量測單位(SMU)NI PXIe-4139,為NI SMU系列的高效能產品。新款SMU可協助測試工程師縮短整體的測試成本,同時加快上市速度,適用於半導體、汽車及消費型電子等多種產業。


NI測試系統的資深部門經理Luke Schreier表示,有了NI PXIe-4139,工程師和科學家即可享有廣大的IV範圍,像是高達500瓦(W)的脈波產生功能,以及100fA的靈敏度,透過單一儀器即可測試多種裝置。NI PXIe-4139的精巧機身也是關鍵之一,相較於舊款箱型儀器的SMU,有助於大幅減少系統體積。


Schreier指出,如果想要隨時掌握越來越複雜的現代電子裝置,就會需要全新的儀器思維。有了SourceAdapt技術,再加上PXI模組化儀器和NI LabVIEW系統設計軟體固有的優勢,工程師即可縮短測試時間、保護待測裝置,藉此享有理想的競爭優勢。


NI PXIe-4139搭載了NI SourceAdapt技術,可幫助工程師客制化SMU控制迴路,針對各種負載產生最理想的SMU響應,這麼做有助於保護待測裝置,提高系統的穩定性。此外,NI PXIe-4139系統SMU可以1.8MS/s的速度執行量測,比傳統SMU快了一百倍,不但能夠縮短測試時間,還可以幫助工程師掌握暫態裝置的行為,不需要額外設備。


美商國家儀器網址:www.ni.com

標籤
相關文章

NI/太克科技發表高效能PXI示波器

2011 年 04 月 22 日

NI CompactRIO整合式平台鎖定嵌入式監控

2011 年 06 月 29 日

NI年度量測技術論壇11月15日開跑

2011 年 10 月 31 日

NI攜手TU Dresden研發5G行動網路

2012 年 07 月 12 日

逢甲機電整合實作競賽實踐NI工程教育理念

2012 年 07 月 17 日

美商國家儀器PXI TAC即將登場

2013 年 05 月 03 日
前一篇
英特爾攻勢連連 x86平板裝置聲勢看漲
下一篇
全被動/半被動模式皆可運作 NFC感測標籤應用大無限