NI向量網路分析器有助減少測試成本

2012 年 11 月 17 日

美商國家儀器(NI)發表PXIe-5632向量網路分析器(VNA),這款經過最佳化的產品可協助工程師滿足日趨複雜的射頻(RF)測試需求,且相較於傳統的機架堆疊式解決方案,必要的成本、時間、體積都有所減少。
 



美商國家儀器RF研發副總裁Jin Bains表示,該公司持續投資RF與微波儀器,將PXI的使用範圍拓展至高階應用,PXIe-5632 VNA豐富的功能組合,有助於降低網路量測成本,尤其是須精確量測、高速量測與小型體積的大量自動化測試應用。
 



全新PXIe VNA採用創新的雙源架構,頻率範圍則是300k~8.5GHz,可獨立調整來源且具備來源存取迴路,適用於各式各樣的量測應用。PXI Express模組整合進階的VNA量測功能,打造出完整的PXI架構測試系統,並結合精確直流電(DC)、高速類比與數位量測等許多特色。
 



美商國家儀器網址:www.ni.com

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