看準複雜且日新月異的智慧裝置市場，驅動半導體設備商對多重測試的強勁需求，國家儀器(NI)於2016 Semicon Taiwan展期祭出三大半導體測試解決方案，分別為可搭配半導體測試系統(STS)使用的高功率RF模組、ATE等級的PXIe-6570數位波形儀器，以及兼具速度與靈敏度的PXIe-4135電源量測單元(SMU)。
為了更完整半導體測試的產品選擇，NI推出的PXIe-6570數位波形儀器與NI Digital Pattern Editor，將高階數位測試平台才具備的數位測試功能引進到開放式的PXI平台中，讓工程師可妥善運用波形編輯器，與除錯工具降低整體的測試成本，提升RF與類比IC的傳輸率，並讓電源管理IC、MEMS裝置與混合訊號IC製造商突破傳統半導體自動化測試設備的封閉架構，成為具備ATE等級的數位儀器，有助於企業縮短產品的上市時程。
而在半導體的電源量測方面，NI PXIe-4135 SMU具備10 fA的高靈敏度與高達200V的電壓輸出，可測試低電流訊號並進行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與各種IC特性測試。此外，工程師還可透過模組化的PXI SMU打造體積精巧、平行的多通道數系統，同時享有多達68個SMU通道的單一PXI機箱，能夠針對數百個通道執行晶圓穩定性測試與平行測試。
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