NI年度量測技術論壇11月15日開跑

2011 年 10 月 31 日

2011年美商國家儀器(NI)年度技術論壇將於高雄、新竹、台北三地舉辦,針對工程師、科學家及研究學者,量身訂作一系列的技術專題。此次論壇將集結 NI 本年度的新產品、技術精華以及經典應用案例,讓所有與會者得以從此次論壇獲得工作上實質的幫助和解決方案。
 



此次年度技術論壇,包括NI的產品技術專題,如PAC、PXI、LabVIEW,從產線自動化到測試自動化,NI 全面滿足工程師的需求。而 NI 三大產品技術專題則邀請到各領域專業夥伴,為與會者分享機器人、影音測試、射頻(RF)技術、產線測試等應用專題。
 



此外,活動現場更準備超過十個全新實機應用展示,並將最新的發光二極體(LED)多點測試技術、如何降低IC測試成本、RF IC測試全方位解決方案、影像訊號量測技術、產線自動化剖析與解決方案等熱門議題,在本次論壇一次帶給所有與會者。當然,NI今年最夯產品、全新技術也皆會在此次一次曝光,多元應用豐富呈現。
 



從虛擬儀控到圖型化, NI 一直走在業界的最前端,引領大家邁向未來。11 月的年度技術論壇, NI 將再次帶領大家,進入高彈性、高整合的世代。活動相關場次如下:11月15日高雄場,高雄商務會議中心4F十全廳(高雄市前鎮區中山二路5號)、11月16日新竹場喜來登大飯店3F宴會廳II(新竹縣竹北市光明六路東一段265號)、11月17日台北場維多麗亞酒店 1F大宴會廳(台北市中山區敬業四路168號)。報名方法:電話報名:02-2377- 2222#5555、E-mail報名 : info.taiwan@ni.com、網路報名:ni.com/taiwan/seminar
 



美商國家儀器網址:www.ni.com

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