國家儀器(NI)近期宣布推出TestStand半導體模組，為測試系統工程師提供所需的軟體工具以進行快速開發、部署並維護較佳化的半導體測試系統。
NI 半導體測試副理Ron Wolfe表示，該公司透過開放式軟體與模組化硬體，持續降低半導體測試的成本。該公司於2014 年推出STS，為開放式的工業標準PXI 平台新增半導體專屬功能。該模組是針對半導體特性測試、生產測試的各種需求所設計，藉此提升測試開發的生產力。
透過該模組，工程師能運用與半導體測試系統(STS)部署在廠房內一樣的程式設計方式，在實驗室進行特性測試，進而降低建立量測結果關聯所需的時間。此一模組採用TestStand工業標準測試管理軟體，幫助用戶使用PXI和TestStand功能自行搭建半導體測試所需的基架構式系統，而不需要採用STS傳統的「測試頭」架構。
該模組功能還包括：動態多點程式設計，能夠針對不同數量的測試站點，重複使用程式碼；直覺式的Pin Map Editor，包含PXI與第三方儀控；標準測試資料格式(STDF)結果處理器，能夠針對參數測試結果執行工業標準記錄。
NI網址：www.ni.com
