國家儀器(NI)為協助工程師與科學家解決艱鉅的工程挑戰，於台南、新竹、台北分別舉辦2016自動化測試與量測技術研討會，透過系列講座與實機展示，剖析自動化測試與量測的最新趨勢、分享PXI平台，協助客戶進入物聯網時代及提供有效管理巨量類比資料(Big Analog Data)的解決方案。
國家儀器行銷部葉俊寬指出，隨著物聯網裝置的多樣化，有效管理海量資料為核心關鍵，因此必須重新思考傳統的測試方式，並了解資料截取在海量資料中的重要性。為了讓合作夥伴更有效地管理巨量類比資料，NI致力與合作夥伴共同打造模組化平台，讓工程師能更簡易地在平台上於數秒內截取、自動分析資料並產出報表。
因應物聯網時代的到來，市場對智慧裝置的需求不斷攀升，多功能、複雜化及產品生命週期逐年縮短，儼然為大勢所趨；面對此趨勢，工程師們須採用更智能化的量測與測試方式，才能進一步提升研發能量並縮短產品上市時程。
根據市場研究機構Gartner預估，2016年全球將有高達64億個物聯網裝置，其中4億個為消費性裝置，面對如此強勁的需求，NI提供工程師開放式且彈性佳的PXI自動化測試平台，協助光電產業、半導體產業、車用業者、製造業及學術界的合作夥伴們，降低測試智慧裝置的複雜度、縮短測試與量測的時程，並加速驗證及產線的量產。
NI網址：www.ni.com
